简捷新高度工业计算机断层扫描

计算机断层扫描(CT)是一种计算机辅助的无损扫描过程，可广泛应用于工业领域。CT扫描过程利用X射线使被扫描部件的内部和外部结构以及缺陷可视化，同时提供完整的3D数据。

ZEISS攀枝花工业CT解决方案是优化质量保证和过程控制的理想选择，具有提高资源利用率和易于使用的特点——测量和检查，一气呵成!

METROTOM 1集多优势于一体

ZEISS METROTOM 1 的 CT 技术便捷，用户仅需一次扫描即可有效完成复杂的测量与检测任务，从而对接触式和光学测量系统无法检测到的隐蔽缺陷与内部结构进行测量、分析及检测。

无论中小尺寸样品、还是塑料、轻金属材质，借助 METROTOM 1，可检测多样化的部件，实现缺陷检验、尺寸误差彩图比对与全尺寸量测。（例如连接器、塑胶瓶盖、铝制品等）配备的GOM Volume Inspect软件具备创新的3D体积渲染和所有剖面的3D可视化。借助GOM Volume Inspect软件，可洞悉部件内部，分析几何形状、孔隙或内部结构以及装配情况。一站式扫描解决方案，提供整个零件的全面细节。测量隐藏或者内部的特征尺寸以及内部缺陷，并根据行业标准对缺陷进行定性与定量分析。